CHY - CHY625 tester logiczny z wbudowanym generatorem

Tester logiczny do pomiaru w obwodach TTL  i CMOS (do 50MHz). Dodatkowo
posiada własny wewnętrzny generator 0,5/400Hz.

CECHY KONSTRUKCYJNE I UŻYTKOWE:
• Sygnalizacja stanów logicznych
• Sygnalizacja poziomu zakazanego lub
rozwartego obwodu
• Sygnalizacja fali prostok1tnej
• Sygnalizacja krótkich impulsów
• Wewnętrzny generator
    DANE ELEKTRYCZNE:
Max czestotliwość
sygna3u wejściowego: 50MHz
Impedancja wejściowa: 120kW
TTL: “1” (dioda HI): >3V ± 0,25V
TTL: “0” (dioda LO): <0,75V ± 0,25V
CMOS: “1” (dioda HI): >60% Vcc ± 5%
CMOS: “0” (dioda LO): <15% Vcc ± 5%
Min. wykrywany impuls: szerokość 10ns
Zasilanie: 0,4VDC - 18VDC
Zabezpieczenia
wejścia zasilania: +70V DC/AC
(15s max.),
+20V DC

DANE ELEKTRYCZNE GENERATORA LOGICZNEGO:
Impedancja wejściowa synchronizacji: 120kW
Generowane impulsy: 0,5 / 400Hz
Pr1d wyjściowy: 100mA
Pr1d wyjściowy fali prostok1tnej: 5mA
Zasilanie: 5-15V DC
Zabezpieczenia zasilania: 20V DC (30s max.)
Zabezpieczenia wejścia synchronicznego: 120V DC (30s max.)
Zabezpieczenia wejścia testowego: 35V DC (30s max.)
    POZOSTAŁE DANE:
Środowisko pracy...................................................................0°C ÷ 50°C RH<80%
Środowisko przechowywania..............................................-20°C ÷ 65°C RH<75%
Wymiary/masa .......................................................................218x18x18mm / 50 g